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臼田 重和; 安田 健一郎; 桜井 聡; 高橋 俊行; 軍司 秀穂*; P.Howarth*
INMM 39th Annual Meeting Proceedings (CD-ROM), 27, 6 Pages, 1998/00
回転ドラムセル型モニターに、従来使用されていた線計測用のSi検出器などの代わりに、著者らが開発した及び()線同時計測用ZnS(Ag)/NE102Aホスウィッチ検出器を応用し、その性能を調べた。同モニターは、放射体のプロセス濃度モニタリング用として原研NUCEFに設置されているもので、装置の一部を改造し、濃縮ウラン溶液を利用して性能試験を行った。発表では、ホスウィッチ検出器、同モニターの改造、及び()線強度とウラン溶液濃度との関係、濃度モニタリング結果、装置の課題、Si検出器で得られた性能との比較などについて述べる。
臼田 重和; 安田 健一郎; 桜井 聡; 高橋 俊行; 軍司 秀穂*
第18回核物質管理学会(INMM)日本支部年次大会論文集, p.142 - 148, 1997/11
原研NUCEFに設置されている回転ドラム式モニターを一部改良して、濃縮ウラン溶液を利用してSi検出器とZnS(Ag)/NE102Aホスウィッチ検出器による性能試験を行った。線のみを測定対象としたSi検出器による試験では、4桁にわたる濃度範囲において、優れた相関関係が得られた。感度が高く、低レベル放射能溶液の濃度モニタリングに適していることがわかった。一方、ホスウィッチは発表者らが開発中の検出器であり、線と()線双方の同時計測が可能である。この検出器による試験では、線の測定についてはSi検出器とほぼ同等の性能が得られたばかりでなく、()線強度の監視によりFP等の混入の程度も推定できることを確認した。
臼田 重和; 鈴木 敏夫; 河野 信昭; 梅澤 弘一
JAERI-M 90-030, 13 Pages, 1990/02
高純度Cmを調製し、その半減期を再測定した。測定は2比例計数管検出器による放射能測定、低ジオメトリーSi検出器による線スペクトロメトリー及び低エネルギー測定用純Geプレナー型検出器による(X)線スペクトロメトリーの独立した3種類の方法を用いて行った。最後は、Cmの半減期測定には今まで報告されたことのない方法である。これらの測定値の荷重平均として、161.410.28日を得た。この値は、前回の我々の測定値161.350.30日と一致するが、他の文献値より1%程度短い値である。
阪井 英次
Proc.of KEK Symp.on Radiation Dosimetry, p.165 - 190, 1978/00
半導体検出器開発をめぐる最近の話題について解説した。Si検出器におけるエピタキシャル技術の適用、Ge(Li)検出器におけるウェル型の検出効率、高純度Ge検出器におけるn、P電極作成技術、表面保護、低エネルギーX線測定での、問題点や応用例、室温半導体検出器としてのGaAs,Cdte,HgI検出器やダイヤモンド検出器の現状について述べた後、半導体検出器を用いた線量率計および線量計について解説した。図面8,表1、文献74を載せた。また、本論文は高エネルギー研究所で行われた放射線ドシメトリに関する研究会の報告書であるので、質疑応答についても記載した。